經(jing)濟型二(er)次元影(ying)像測(ce)(ce)量儀(yi)(yi)二(er)次元測(ce)(ce)量儀(yi)(yi)使用(yong)本身的(de)硬(ying)件(jian)（CCD，目鏡，物鏡數據線）將所能捕捉到(dao)的(de)圖像，通過數據線傳輸到(dao)電(dian)(dian)腦的(de)數據采集(ji)卡中，之(zhi)后(hou)由軟件(jian)在(zai)電(dian)(dian)腦顯示器上(shang)(shang)(shang)成(cheng)像，由操(cao)作員用(yong)鼠標在(zai)電(dian)(dian)腦上(shang)(shang)(shang)進行快速的(de)測(ce)(ce)量。以上(shang)(shang)(shang)的(de)工序，基本上(shang)(shang)(shang)在(zai)幾(ji)萬(wan)分*秒完(wan)成(cheng)，所以可以把他看作是實(shi)時(shi)檢(jian)測(ce)(ce)設(she)備，或(huo)者狹(xia)隘*點(dian)可以稱為(wei)動態測(ce)(ce)量設(she)備。如果配置合乎要求，設(she)備不會產生圖像滯后(hou)現象。
15J測(ce)(ce)量顯微(wei)鏡(jing)15J供應直角(jiao)座標(biao)中測(ce)(ce)定(ding)長(chang)度(du)，例如：測(ce)(ce)定(ding)孔(kong)距、基面(mian)距離、刻(ke)線距離、刻(ke)線寬度(du)、鍵槽(cao)寬度(du)、狹縫寬度(du)、通孔(kong)外圓直徑等等。轉動(dong)度(du)盤測(ce)(ce)定(ding)角(jiao)度(du)，例如：對刻(ke)度(du)盤、樣板、量規、鉆孔(kong)模板及幾何形狀(zhuang)復雜的(de)零件進(jin)行(xing)角(jiao)度(du)測(ce)(ce)量。用作(zuo)觀(guan)察顯微(wei)鏡(jing)，以(yi)比較法檢查(cha)工作(zuo)表面(mian)光(guang)潔度(du)，鑒定(ding)冶金工業的(de)礦石標(biao)本。檢定(ding)印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。
大量(liang)(liang)(liang)程影(ying)像二(er)次元(yuan)廠家：隨著科技(ji)(ji)發展，對(dui)各種(zhong)工(gong)件和(he)零件的(de)(de)測(ce)量(liang)(liang)(liang)精度越來(lai)越*，對(dui)測(ce)量(liang)(liang)(liang)儀(yi)器的(de)(de)要(yao)求也是(shi)越來(lai)越苛刻(ke)， 二(er)次元(yuan)影(ying)象測(ce)繪儀(yi)是(shi)對(dui)傳統的(de)(de)測(ce)量(liang)(liang)(liang)技(ji)(ji)術(shu)的(de)(de)飛躍(yue)性(xing)發展，是(shi)將傳統的(de)(de)光學投影(ying)和(he)計算機*結合的(de)(de)產物。二(er)次元(yuan)影(ying)像測(ce)量(liang)(liang)(liang)儀(yi)器是(shi)當今工(gong)業檢測(ce)與計量(liang)(liang)(liang)技(ji)(ji)術(shu)領域(yu)中的(de)(de)*個(ge)新名詞，大量(liang)(liang)(liang)程影(ying)像二(er)次元(yuan)代表的(de)(de)是(shi)數(shu)位科技(ji)(ji)溶入(ru)工(gong)業檢測(ce)與計量(liang)(liang)(liang)，進行空(kong)間幾何運算的(de)(de)*測(ce)量(liang)(liang)(liang)技(ji)(ji)術(shu)。
大量程影像(xiang)二次(ci)元供(gong)應：隨著科(ke)技(ji)發展，對(dui)各種工(gong)件和零(ling)件的(de)測(ce)(ce)(ce)量精(jing)度越(yue)來越(yue)*，對(dui)測(ce)(ce)(ce)量儀器的(de)要求也是(shi)越(yue)來越(yue)苛刻， 二次(ci)元影象測(ce)(ce)(ce)繪(hui)儀是(shi)對(dui)傳統(tong)的(de)測(ce)(ce)(ce)量技(ji)術的(de)飛躍性(xing)發展，是(shi)將傳統(tong)的(de)光學投(tou)影和計(ji)(ji)算(suan)機*結合的(de)產物(wu)。二次(ci)元影像(xiang)測(ce)(ce)(ce)量儀器是(shi)當今(jin)工(gong)業檢測(ce)(ce)(ce)與(yu)(yu)計(ji)(ji)量技(ji)術領域中的(de)*個新名詞，大量程影像(xiang)二次(ci)元代表的(de)是(shi)數位(wei)科(ke)技(ji)溶(rong)入(ru)工(gong)業檢測(ce)(ce)(ce)與(yu)(yu)計(ji)(ji)量，進(jin)行空間幾何運(yun)算(suan)的(de)*測(ce)(ce)(ce)量技(ji)術。
